CENELEC EN 60749-37-2008
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 37: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser (IEC 60749-37:2008)
- Standard-Nr.
- CENELEC EN 60749-37-2008
- Erscheinungsdatum
- 2008
- Organisation
- European Committee for Standardization (CEN)
- Zustand
- Letzte Version
- CENELEC EN 60749-37-2008
CENELEC EN 60749-37-2008 Veröffentlichungsverlauf
- 2008 CENELEC EN 60749-37-2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 37: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser (IEC 60749-37:2008)
