ASTM F950-98
Standardtestmethode zur Messung der Tiefe der Kristallschädigung einer mechanisch bearbeiteten Siliziumscheibenoberfläche durch Winkelpolieren und Defektätzen

Standard-Nr.
ASTM F950-98
Erscheinungsdatum
1998
Organisation
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Zustand
ersetzt durch
ASTM F950-02
Letzte Version
ASTM F950-02

ASTM F950-98 Normative Verweisungen

  • ASTM D1193 Standardspezifikation für Reagenzwasser*1999-03-30 Aktualisieren
  • ASTM E122 Standardverfahren zur Berechnung der Stichprobengröße, um mit einem angegebenen tolerierbaren Fehler den Durchschnitt der Merkmale einer Charge oder eines Prozesses zu schätzen*2000-10-10 Aktualisieren
  • ASTM F532 
  • ASTM F672 Standardtestmethode zur Messung von Widerstandsprofilen senkrecht zur Oberfläche eines Siliziumwafers unter Verwendung einer Ausbreitungswiderstandssonde

ASTM F950-98 Veröffentlichungsverlauf

  • 1970 ASTM F950-02
  • 1998 ASTM F950-98 Standardtestmethode zur Messung der Tiefe der Kristallschädigung einer mechanisch bearbeiteten Siliziumscheibenoberfläche durch Winkelpolieren und Defektätzen
Standardtestmethode zur Messung der Tiefe der Kristallschädigung einer mechanisch bearbeiteten Siliziumscheibenoberfläche durch Winkelpolieren und Defektätzen



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