ASTM F50-07
Standardpraxis für die kontinuierliche Größenbestimmung und Zählung luftgetragener Partikel in staubkontrollierten Bereichen und Reinräumen unter Verwendung von Instrumenten, die einzelne Partikel im Submikrometerbereich und größere Partikel erkennen können

Standard-Nr.

ASTM F50-07

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

ASTM F50-12

Letzte Version

ASTM F50-21

ASTM F50-07 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 ASTM F50-21 Standardpraxis für die kontinuierliche Größenbestimmung und Zählung luftgetragener Partikel in staubkontrollierten Bereichen und Reinräumen unter Verwendung von Instrumenten, die einzelne Partikel im Submikrometerbereich und größere Partikel erkennen können
• 2012 ASTM F50-12(2015) Standardpraxis für die kontinuierliche Größenbestimmung und Zählung luftgetragener Partikel in staubkontrollierten Bereichen und Reinräumen unter Verwendung von Instrumenten, die einzelne Partikel im Submikrometerbereich und größere Partikel erkennen können
• 2012 ASTM F50-12 Standardpraxis für die kontinuierliche Größenbestimmung und Zählung luftgetragener Partikel in staubkontrollierten Bereichen und Reinräumen unter Verwendung von Instrumenten, die einzelne Partikel im Submikrometerbereich und größere Partikel erkennen können
• 2007 ASTM F50-07 Standardpraxis für die kontinuierliche Größenbestimmung und Zählung luftgetragener Partikel in staubkontrollierten Bereichen und Reinräumen unter Verwendung von Instrumenten, die einzelne Partikel im Submikrometerbereich und größere Partikel erkennen können
• 1992 ASTM F50-92(2001)e1 Standardpraxis für die kontinuierliche Größenbestimmung und Zählung luftgetragener Partikel in staubkontrollierten Bereichen und Reinräumen unter Verwendung von Instrumenten, die einzelne Partikel im Submikrometerbereich und größere Partikel erkennen können
• 1992 ASTM F50-92(1996) Standardpraxis für die kontinuierliche Größenbestimmung und Zählung luftgetragener Partikel in staubkontrollierten Bereichen und Reinräumen unter Verwendung von Instrumenten, die einzelne Partikel im Submikrometerbereich und größere Partikel erkennen können