ASTM C1465-00(2006)
Standardtestmethode zur Bestimmung langsamer Risswachstumsparameter von Hochleistungskeramik durch Biegeprüfung mit konstanter Spannungsrate bei erhöhten Temperaturen

Standard-Nr.

ASTM C1465-00(2006)

Erscheinungsdatum

2000

Organisation

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

ASTM C1465-08

Letzte Version

ASTM C1465-08(2019)

ASTM C1465-00(2006) Veröffentlichungsverlauf

• 2019 ASTM C1465-08(2019) Standardtestmethode zur Bestimmung langsamer Risswachstumsparameter von Hochleistungskeramik durch Biegeprüfung mit konstanter Spannungsrate bei erhöhten Temperaturen
• 2008 ASTM C1465-08(2013)e1 Standardtestmethode zur Bestimmung langsamer Risswachstumsparameter von Hochleistungskeramik durch Biegeprüfung mit konstanter Spannungsrate bei erhöhten Temperaturen
• 2008 ASTM C1465-08(2013) Standardtestmethode zur Bestimmung langsamer Risswachstumsparameter von Hochleistungskeramik durch Biegeprüfung mit konstanter Spannungsrate bei erhöhten Temperaturen
• 2008 ASTM C1465-08 Standardtestmethode zur Bestimmung langsamer Risswachstumsparameter von Hochleistungskeramik durch Biegeprüfung mit konstanter Spannungsrate bei erhöhten Temperaturen
• 2000 ASTM C1465-00(2006) Standardtestmethode zur Bestimmung langsamer Risswachstumsparameter von Hochleistungskeramik durch Biegeprüfung mit konstanter Spannungsrate bei erhöhten Temperaturen
• 2000 ASTM C1465-00 Standardtestmethode zur Bestimmung langsamer Risswachstumsparameter von Hochleistungskeramik durch Biegeprüfung mit konstanter Spannungsrate bei erhöhten Temperaturen