ASTM F1260M-96(2003)
Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall durch Elektromigration und Sigma von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]

Standard-Nr.
ASTM F1260M-96(2003)
Erscheinungsdatum
1996
Organisation
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Zustand
 2009-12
Letzte Version
ASTM F1260M-96(2003)

ASTM F1260M-96(2003) Normative Verweisungen

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  • ASTM F1261M Standardtestmethode zur Bestimmung der durchschnittlichen elektrischen Breite einer geraden Dünnfilm-Metallleitung [metrisch]

ASTM F1260M-96(2003) Veröffentlichungsverlauf

  • 1996 ASTM F1260M-96(2003) Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall durch Elektromigration und Sigma von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]
  • 1996 ASTM F1260M-96 Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall der Elektromigration und des Sigmas von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]
Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall durch Elektromigration und Sigma von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]



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