ASTM F1260M-96(2003) Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall durch Elektromigration und Sigma von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]
ASTM F1259M Standardhandbuch für die Gestaltung flacher, geradliniger Teststrukturen zur Erkennung von Metallisierungsunterbrechungen oder Widerstandserhöhungsfehlern aufgrund von Elektromigration [metrisch]
ASTM F1261M Standardtestmethode zur Bestimmung der durchschnittlichen elektrischen Breite einer geraden Dünnfilm-Metallleitung [metrisch]
ASTM F1260M-96(2003) Veröffentlichungsverlauf
1996ASTM F1260M-96(2003) Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall durch Elektromigration und Sigma von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]
1996ASTM F1260M-96 Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall der Elektromigration und des Sigmas von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]