ASTM F847-94(1999)
Standardtestmethoden zur Messung der kristallographischen Ausrichtung von Flächen auf einkristallinen Siliziumwafern durch Röntgentechniken

Standard-Nr.
ASTM F847-94(1999)
Erscheinungsdatum
1994
Organisation
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Zustand
ersetzt durch
ASTM F847-02
Letzte Version
ASTM F847-02

ASTM F847-94(1999) Normative Verweisungen

  • ASTM E122 Standardverfahren zur Berechnung der Stichprobengröße, um mit einem angegebenen tolerierbaren Fehler den Durchschnitt der Merkmale einer Charge oder eines Prozesses zu schätzen*2000-10-10 Aktualisieren
  • ASTM E82 Standardtestmethode zur Bestimmung der Orientierung eines Metallkristalls
  • ASTM F26 

ASTM F847-94(1999) Veröffentlichungsverlauf

  • 1970 ASTM F847-02
  • 1994 ASTM F847-94(1999) Standardtestmethoden zur Messung der kristallographischen Ausrichtung von Flächen auf einkristallinen Siliziumwafern durch Röntgentechniken
Standardtestmethoden zur Messung der kristallographischen Ausrichtung von Flächen auf einkristallinen Siliziumwafern durch Röntgentechniken



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