DIN 51096:2008
Prüfung keramischer Roh- und Grundstoffe – Direkte Bestimmung von Massenanteilen von Verunreinigungen in Pulvern und Granulaten aus Siliziumkarbid mittels induktiv gekoppelter Plasma-Emissionsspektrometrie (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV)

Standard-Nr.
DIN 51096:2008
Erscheinungsdatum
2008
Organisation
German Institute for Standardization
Zustand
ersetzt durch
DIN EN 15991:2011
Letzte Version
DIN EN 15991:2016

DIN 51096:2008 Veröffentlichungsverlauf

  • 2016 DIN EN 15991:2016 Prüfung von Keramik und Grundmaterialien - Direkte Bestimmung der Massenanteile von Verunreinigungen in Pulvern und Granulaten aus Siliziumkarbid durch optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES) mit elektrothermischer Verdampfung (ETV); Deutsch v
  • 2011 DIN EN 15991:2011 Prüfung von Keramik und Grundmaterialien - Direkte Bestimmung der Massenanteile von Verunreinigungen in Pulvern und Granulaten aus Siliziumkarbid durch optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES) mit elektrothermischer Verdampfung (ETV); Deutsch v
  • 2008 DIN 51096:2008 Prüfung keramischer Roh- und Grundstoffe – Direkte Bestimmung von Massenanteilen von Verunreinigungen in Pulvern und Granulaten aus Siliziumkarbid mittels induktiv gekoppelter Plasma-Emissionsspektrometrie (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV)
Prüfung keramischer Roh- und Grundstoffe – Direkte Bestimmung von Massenanteilen von Verunreinigungen in Pulvern und Granulaten aus Siliziumkarbid mittels induktiv gekoppelter Plasma-Emissionsspektrometrie (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV)



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