JIS C 3660-1-4:2003
Gemeinsame Prüfmethoden für Isolier- und Mantelmaterialien von elektrischen und optischen Kabeln – Teil 1-4: Methoden für allgemeine Anwendungen – Prüfung bei niedriger Temperatur

Standard-Nr.

JIS C 3660-1-4:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS C 3660-1-4:2003

Ersetzen

JIS C 3660-1-4:1998

JIS C 3660-1-4:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2003 JIS C 3660-1-4:2003 Gemeinsame Prüfmethoden für Isolier- und Mantelmaterialien von elektrischen und optischen Kabeln – Teil 1-4: Methoden für allgemeine Anwendungen – Prüfung bei niedriger Temperatur
• 1998 JIS C 3660-1-4:1998 Gemeinsame Prüfmethoden für Isolier- und Mantelmaterialien von Elektrokabeln – Teil 1: Methoden für allgemeine Anwendungen – Abschnitt 4: Prüfung bei niedrigen Temperaturen