TS 2553-1977
Grundlegende Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze der Messmethoden Teil 3: Referenzmessmethoden

Standard-Nr.

TS 2553-1977

Erscheinungsdatum

1977

Organisation

TR-TSE

Letzte Version

TS 2553-1977

TS 2553-1977 Veröffentlichungsverlauf

• 1977 TS 2553-1977 Grundlegende Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze der Messmethoden Teil 3: Referenzmessmethoden