BS EN 60749-15:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Beständigkeit gegenüber der Löttemperatur für durchkontaktierte Bauelemente

Standard-Nr.

BS EN 60749-15:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Zustand

ersetzt werden 2011-02

ersetzt durch

BS EN 60749-15:2010

BS EN 60749-15:2011

Letzte Version

BS EN 60749-15:2011

BS EN 60749-15:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 BS EN 60749-15:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Beständigkeit gegenüber der montierten Löttemperatur für Durchgangslochbauelemente
• 2011 BS EN 60749-15:2010 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Beständigkeit gegen Löttemperatur für durchkontaktierte Geräte
• 2003 BS EN 60749-15:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Beständigkeit gegenüber der Löttemperatur für durchkontaktierte Bauelemente