CSN 35 8757 Cast.5-1985
Transistoren. Verfahren zur Messung der Kapazität einer Kollektor- und Emitter-Sperrschicht

Standard-Nr.
CSN 35 8757 Cast.5-1985
Erscheinungsdatum
1985
Organisation
CZ-CSN
Zustand
Letzte Version
CSN 35 8757 Cast.5-1985

CSN 35 8757 Cast.5-1985 Veröffentlichungsverlauf

  • 1985 CSN 35 8757 Cast.5-1985 Transistoren. Verfahren zur Messung der Kapazität einer Kollektor- und Emitter-Sperrschicht

CSN 35 8757 Cast.5-1985 - alle Teile

CSN 35 8757 Cast.1-1985 Transistoren. Messverfahren für die Kollektor-Basis- und Emitter-Basis-Durchbruchspannung CSN 35 8757 Cast.10-1986 Transistoren. Methoden zur Messung der Ausgangskapazität in gemeinsamer Basisverbindung CSN 35 8757 Cast.11-1986 Transistoren. Verfahren zur Messung von Schaltzeiten CSN 35 8757 Cast.12-1989 Blpolartransistoren. Impulsmessmethode der Durchbruchspannung Kollektor-Emltter CSN 35 8757 Cast.2-1985 Transistoren. Messmethode für das Durchlassstromübertragungsverhältnis von Kleinsignalen mit gemeinsamem Emitter und Kurzschlüssen CSN 35 8757 Cast.3-1984 Transistor. Verfahren zur Messung des Geräuschpegels CSN 35 8757 Cast.4-1985 Transistoren. Methoden zur Messung des Kollektor-Abschaltstroms, des Emitter-Abschaltstroms und des Kollektor-Emitter-Abschaltstroms CSN 35 8757 Cast.6-1985 Messmethode für den statischen Wert des gemeinsamen Emitter-Vorwärtsübertragungsverhältnisses CSN 35 8757 Cast.7-1985 Transistoren. Messmethode für den Absolutwert des Vorwärtsstromübertragungsverhältnisses und der Übergangsfrequenz CSN 35 8757 Cast.8-1985 Transistoren. Messmethoden der Basis-Emitter-Spannung CSN 35 8757 Cast.9-1986 Transistoren. Methoden zur Messung des Wärmewiderstands


© 2024 Alle Rechte vorbehalten.