CSN 35 8745-1973 Halbleiterbauelemente. Transistor. Messung des Leerlauf-Sperrspannungsübertragungsverhältnisses und des Spannungskoeffizienten bei hohen Frequenzen
1984CSN 35 8745-1984 Transistoren. Verfahren zur Zeitkonstantenmessung mit Rückkopplungsschaltung
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