DIN EN 1071-1:2003
Hochleistungskeramik – Prüfverfahren für keramische Beschichtungen – Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mittels Kontaktsonden-Profilometer; Deutsche Fassung EN 1071-1:2003

Standard-Nr.
DIN EN 1071-1:2003
Erscheinungsdatum
2003
Organisation
German Institute for Standardization
Zustand
ersetzt durch
DIN EN ISO 18452:2016
Letzte Version
DIN EN ISO 18452:2016
Ersetzen
DIN V ENV 1071-1:1993

DIN EN 1071-1:2003 Veröffentlichungsverlauf

  • 2016 DIN EN ISO 18452:2016 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik) - Bestimmung der Dicke von Keramikfilmen mittels Kontaktsonden-Profilometer (ISO 18452:2005); Deutsche Fassung EN ISO 18452:2016
  • 2003 DIN EN 1071-1:2003 Hochleistungskeramik – Prüfverfahren für keramische Beschichtungen – Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mittels Kontaktsonden-Profilometer; Deutsche Fassung EN 1071-1:2003
  • 0000 DIN V ENV 1071-1:1993
Hochleistungskeramik – Prüfverfahren für keramische Beschichtungen – Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mittels Kontaktsonden-Profilometer; Deutsche Fassung EN 1071-1:2003



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