JIS B 7440-4:2003
Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Abnahme- und Überprüfungstests für Koordinatenmessgeräte (KMG) – Teil 4: KMGs, die im scannenden Messmodus verwendet werden

Standard-Nr.

JIS B 7440-4:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS B 7440-4:2003

JIS B 7440-4:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2003 JIS B 7440-4:2003 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Abnahme- und Überprüfungstests für Koordinatenmessgeräte (KMG) – Teil 4: KMGs, die im scannenden Messmodus verwendet werden