IEC 60749-38:2008
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

Standard-Nr.

IEC 60749-38:2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60749-38:2008

Ersetzen

IEC 47/1943/FDIS:2007

IEC 60749-38:2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 IEC 60749-38:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher