IEC 62024-1:2008
Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Teil 1: Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich

Standard-Nr.

IEC 62024-1:2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

IEC 62024-1:2008/COR1:2008

Letzte Version

IEC 62024-1:2017

Ersetzen

IEC 51/908/FDIS:2007 IEC 62024-1:2002

IEC 62024-1:2008 Normative Verweisungen

• IEC 61249-2-7 Materialien für Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen - Teil 2-7: Verstärkte Grundmaterialien, plattiert und unbekleidet; Epoxidgewebte E-Glas-Verbundplatte mit definierter Brennbarkeit (vertikaler Brenntest), kupferkaschiert
• ISO 6353-3 Reagenzien für die chemische Analyse; Teil 3: Spezifikationen; Zweite Serie
• ISO 9453 Weichlotlegierungen – Chemische Zusammensetzungen und Formen*， 2020-09-24 Aktualisieren

IEC 62024-1:2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 IEC 62024-1:2017 Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Teil 1: Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich
• 2008 IEC 62024-1:2008/COR1:2008 Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Teil 1: Berichtigung 1 zu Chip-Induktoren im Nanohenry-Bereich
• 2008 IEC 62024-1:2008 Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Teil 1: Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich
• 2002 IEC 62024-1:2002 Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Teil 1: Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich