JIS K 0149-1:2008
Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

Standard-Nr.

JIS K 0149-1:2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS K 0149-1:2008

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JIS K 0149-1:2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung