GB/T 13387 Testverfahren zur Messung flacher Wafer aus Silizium und anderen elektronischen Materialien*, 2009-10-30 Aktualisieren
GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen*, 2009-10-30 Aktualisieren
GB/T 14844 Bezeichnungen von Halbleitermaterialien*, 2018-12-28 Aktualisieren
GB/T 1555 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls*, 2023-08-06 Aktualisieren
GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*, 2013-02-15 Aktualisieren
GB/T 4326 Messung der Hall-Mobilität und des Hall-Koeffizienten durch extrinsische Halbleiter-Einkristalle
GB/T 8760 Prüfverfahren für die Versetzungsdichte von einkristallinem Galliumarsenid*, 2020-09-29 Aktualisieren
GJB 1927 Methode zur Prüfung von Galliumarsenid-Einkristallmaterialien
GB/T 11093-2007 Veröffentlichungsverlauf
2007GB/T 11093-2007 In Flüssigkeit eingekapselte, durch Czochralski gezüchtete Galliumarsenid-Einkristalle und geschnittene Scheiben
1989GB/T 11093-1989 In Flüssigkeit eingekapselte, czochralski-gewachsene Galliumarsenid-Einkristalle und As-Cut-Scheiben