JEDEC JEP128-1996
Leitfaden für Standard-Sondenpadgrößen und -Layouts für elektrische Tests auf Waferebene

Standard-Nr.
JEDEC JEP128-1996
Erscheinungsdatum
1996
Organisation
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Letzte Version
JEDEC JEP128-1996

JEDEC JEP128-1996 Veröffentlichungsverlauf

  • 1996 JEDEC JEP128-1996 Leitfaden für Standard-Sondenpadgrößen und -Layouts für elektrische Tests auf Waferebene
Leitfaden für Standard-Sondenpadgrößen und -Layouts für elektrische Tests auf Waferebene



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