IEC 61193-2:2007
Qualitätsbewertungssysteme – Teil 2: Auswahl und Verwendung von Stichprobenplänen zur Inspektion elektronischer Komponenten und Gehäuse

Standard-Nr.

IEC 61193-2:2007

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 61193-2:2007

Ersetzen

IEC 91/690/FDIS:2007

IEC 61193-2:2007 Normative Verweisungen

• IEC 60194 Design, Herstellung und Montage von Leiterplatten – Begriffe und Definitionen*， 2015-04-01 Aktualisieren
• ISO 2859-1:1999 Probenahmeverfahren für die Prüfung nach Merkmalen – Teil 1: Stichprobenpläne, indexiert nach der Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL), für die Prüfung von Los zu Los
• ISO 3534-2:2006 Statistik – Vokabeln und Symbole – Teil 2: Angewandte Statistik

IEC 61193-2:2007 Veröffentlichungsverlauf

• 2007 IEC 61193-2:2007 Qualitätsbewertungssysteme – Teil 2: Auswahl und Verwendung von Stichprobenplänen zur Inspektion elektronischer Komponenten und Gehäuse