2015SJ/T 2658.5-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarot-emittierende Dioden. Teil 5: Reihenschaltungswiderstand
1970SJ 2658.5-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Messmethoden für den Vorwärtsserienwiderstand
SJ 2658.5-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Messmethoden für den Vorwärtsserienwiderstand ha sido cambiado a SJ/T 2658.5-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarot-emittierende Dioden. Teil 5: Reihenschaltungswiderstand.