2015SJ/T 2658.4-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarotdioden. Teil 4: Gesamtkapazität
1970SJ 2658.4-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Methoden zur Messung der Kapazität
SJ 2658.4-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Methoden zur Messung der Kapazität ha sido cambiado a SJ/T 2658.4-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarotdioden. Teil 4: Gesamtkapazität.