2015SJ/T 2658.2-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarotdioden. Teil 2: Durchlassspannung
1970SJ 2658.2-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Methoden zur Messung des Vorwärtsspannungsabfalls
SJ 2658.2-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Methoden zur Messung des Vorwärtsspannungsabfalls ha sido cambiado a SJ/T 2658.2-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarotdioden. Teil 2: Durchlassspannung.