JIS R 1641:2007
Messverfahren für die Dielektrizität feiner Keramikplatten bei Mikrowellenfrequenz

Standard-Nr.

JIS R 1641:2007

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS R 1641:2007

Ersetzen

JIS R 1641:2002

JIS R 1641:2007 Normative Verweisungen

• IEC 60028 Internationaler Widerstandsstandard für Kupfer*， 2024-03-30 Aktualisieren
• JIS B 0601 Geometrische Produktspezifikationen (GPS).Oberflächentextur: Profilmethode.Begriffe, Definitionen und Oberflächentexturparameter*， 2013-03-21 Aktualisieren
• JIS B 7502 Mikrometer*， 2016-08-22 Aktualisieren
• JIS B 7507 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Maßmessgeräte – Nonius, Zifferblätter und digitale Messschieber*， 2022-05-20 Aktualisieren
• JIS R 1600 Glossar mit Begriffen rund um die Feinkeramik*， 2011-12-20 Aktualisieren

JIS R 1641:2007 Veröffentlichungsverlauf

• 2007 JIS R 1641:2007 Messverfahren für die Dielektrizität feiner Keramikplatten bei Mikrowellenfrequenz
• 2002 JIS R 1641:2002 Prüfverfahren für die dielektrischen Eigenschaften feiner Keramikplatten bei Mikrowellenfrequenz