GB/T 20724-2006
Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 20724-2006

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Zustand

ersetzt werden 2022-07

ersetzt durch

GB/T 20724-2021

Letzte Version

GB/T 20724-2021

GB/T 20724-2006 Normative Verweisungen

• GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope

GB/T 20724-2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 GB/T 20724-2021 Mikrostrahlanalyse – Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung
• 2006 GB/T 20724-2006 Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung