GB/T 20724-2006
Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung (Englische Version)
Start
GB/T 20724-2006
Standard-Nr.
GB/T 20724-2006
Sprachen
Chinesisch,
Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2006
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Zustand
ersetzt werden
2022-07
ersetzt durch
GB/T 20724-2021
Letzte Version
GB/T 20724-2021
GB/T 20724-2006 Normative Verweisungen
GB/T 18907-2002
Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 20724-2006 Veröffentlichungsverlauf
2021
GB/T 20724-2021
Mikrostrahlanalyse – Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung
2006
GB/T 20724-2006
Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung
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