EN ISO 9220:1994
Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)

Standard-Nr.

EN ISO 9220:1994

Erscheinungsdatum

1994

Organisation

European Committee for Standardization (CEN)

Zustand

ersetzt werden 2022-05

ersetzt durch

EN ISO 9220:2022

Letzte Version

EN ISO 9220:2022

EN ISO 9220:1994 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
• 1994 EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)