DIN EN 60191-6-8:2002
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-8: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen; Designleitfaden für glasversiegelte Keramik-Quad-Flatpacks (G-QFP) (IEC 60191-6-8:2001); Germa

Standard-Nr.
DIN EN 60191-6-8:2002
Erscheinungsdatum
2002
Organisation
German Institute for Standardization
Zustand
ersetzt durch
DIN EN 60191-6-8:2002-05
Letzte Version
DIN EN 60191-6-8:2002-05
Ersetzen
DIN IEC 47D/131/CD:1996

DIN EN 60191-6-8:2002 Veröffentlichungsverlauf

  • 2002 DIN EN 60191-6-8:2002-05 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-8: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen; Designleitfaden für glasversiegelte Keramik-Quad-Flatpacks (G-QFP) (IEC 60191-6-8:2001); Ge...
  • 2002 DIN EN 60191-6-8:2002 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-8: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen; Designleitfaden für glasversiegelte Keramik-Quad-Flatpacks (G-QFP) (IEC 60191-6-8:2001); Germa
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-8: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen; Designleitfaden für glasversiegelte Keramik-Quad-Flatpacks (G-QFP) (IEC 60191-6-8:2001); Germa



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