IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002
Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente; Wesentliche Bewertungen und Merkmale; Änderung 2

Standard-Nr.

IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

IEC 60747-5-2:2009

Letzte Version

IEC 60747-5-2:2009

Ersetzen

IEC 47E/209/FDIS:2001 IEC 60747-5:1992 IEC 60747-5 AMD 1:1994 IEC 60747-5 AMD 2:1995

IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 Normative Verweisungen

• IEC 60112:1979 Empfohlene Methode zur Bestimmung des vergleichenden Kriechstromindex fester Dämmstoffe unter feuchten Bedingungen
• IEC 60216-1:1990 Leitfaden zur Bestimmung der thermischen Beständigkeitseigenschaften elektrischer Isoliermaterialien; Teil 1: Allgemeine Richtlinien für Alterungsverfahren und Auswertung der Testergebnisse
• IEC 60216-2:1990 Leitfaden zur Bestimmung der thermischen Beständigkeitseigenschaften elektrischer Isoliermaterialien; Teil 2: Auswahl der Testkriterien
• IEC 60672-2:1980 Spezifikation für Isoliermaterialien aus Keramik und Glas. Teil 2: Testmethoden
• IEC 60747-5-2:1997 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente – Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften

IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 Veröffentlichungsverlauf

• 2009 IEC 60747-5-2:2009 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente – Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften
• 2002 IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente; Wesentliche Bewertungen und Merkmale; Änderung 2
• 1997 IEC 60747-5-2:1997 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente – Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften

IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente; Wesentliche Bewertungen und Merkmale; Änderung 2 ha sido cambiado a IEC 60747-5:1992 Halbleiterbauelemente; diskrete Geräte und integrierte Schaltkreise; Teil 5: Optoelektronische Geräte.

IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente; Wesentliche Bewertungen und Merkmale; Änderung 2 ha sido cambiado a IEC 60747-5-5:2007 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 5-5: Optoelektronische Bauelemente – Fotokoppler.