IEC 62047-2:2006
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 2: Zugprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien

Standard-Nr.

IEC 62047-2:2006

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 62047-2:2006

Ersetzen

IEC 47/1865/FDIS:2006

IEC 62047-2:2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2006 IEC 62047-2:2006 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 2: Zugprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien