IEC 61967-4:2002/AMD1:2006
Änderung 1 – Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz – Teil 4: Messung leitungsgebundener Emissionen – 1/150-Direktkopplungsverfahren

Standard-Nr.

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

ersetzt werden 2017-07

ersetzt durch

IEC 61967-4:2002/COR1:2017

Letzte Version

IEC 61967-4:2021 RLV

Ersetzen

IEC 47A/735/FDIS:2005

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Normative Verweisungen

• CISPR 16-1-1 Spezifikation für Funkstörungs- und Immunitätsmessgeräte und -methoden – Teil 1-1: Funkstörungs- und Immunitätsmessgeräte – Messgeräte*， 2019-05-22 Aktualisieren
• CISPR 16-1-2 Spezifikation für Funkstörungs- und Immunitätsmessgeräte und -methoden – Teil 1-2: Funkstörungs- und Immunitätsmessgeräte – Kopplungsgeräte für leitungsgebundene Störmessungen*， 2017-11-07 Aktualisieren
• CISPR 16-1-3 Berichtigung 1 – Spezifikation für Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Teil 1-3: Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Zusatzausrüstung – Störleistung*， 2006-02-09 Aktualisieren
• CISPR 16-1-4 Änderung 2 – Spezifikation für Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Teil 1-4: Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Antennen und Teststandorte für abgestrahlte Störungen*， 2023-04-13 Aktualisieren
• CISPR 16-1-5 Berichtigung 1 – Spezifikation für Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Teil 1-5: Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Antennenkalibrierungsstandorte und Referenzteststandorte für 5 MHz bis 18 GHz*， 2020-08-31 Aktualisieren

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Veröffentlichungsverlauf

• 0000 IEC 61967-4:2021 RLV
• 2017 IEC 61967-4:2002/COR1:2017 Integrierte Schaltkreise - Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung leitungsgebundener Emissionen; 1 Ώ/150 Ώ direkte Kopplungsmethode – Berichtigung 1
• 2006 IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Änderung 1 – Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz – Teil 4: Messung leitungsgebundener Emissionen – 1/150-Direktkopplungsverfahren
• 2006 IEC 61967-4:2006 Integrierte Schaltkreise - Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung leitungsgebundener Emissionen; 1/150 Direktkopplungsmethode
• 2002 IEC 61967-4:2002 Integrierte Schaltkreise - Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung leitungsgebundener Emissionen; 1/150 Direktkopplungsmethode