GB/T 12962-2005
Monokristallines Silizium (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 12962-2005
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2005
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2017-01
- ersetzt durch
- GB/T 12962-2015
- Letzte Version
- GB/T 12962-2015
- Ersetzen
- GB/T 12962-1996
GB/T 12962-2005 Normative Verweisungen
- GB/T 1550 Prüfverfahren für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien*， 2018-12-28 Aktualisieren
- GB/T 1551 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von einkristallinem Silizium – Inline-Vierpunktsonden- und Gleichstrom-Zweipunktsondenverfahren*， 2021-05-21 Aktualisieren
- GB/T 1552 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von einkristallinem Silizium und Germanium mit einem kollinearen Vier-Sonden-Array
- GB/T 1553 Bestimmung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium und Germanium durch die Methode des Photoleitungszerfalls*， 2023-08-06 Aktualisieren
- GB/T 1554 Prüfverfahren für die kristallographische Perfektion von Silizium durch bevorzugte Ätztechniken*， 2009-10-30 Aktualisieren
GB/T 12962-2005 Veröffentlichungsverlauf
- 2017 GB/T 12962-2015 Silizium-Einkristall
- 2005 GB/T 12962-2005 Monokristallines Silizium
- 1996 GB/T 12962-1996 Monokristallines Silizium
- 0000 GB 12962-1991
