JIS C 5402-10-4:2006
Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 10-4: Schlagprüfungen (freie Bauteile), statische Belastungsprüfungen (feste Bauteile), Dauertests und Überlastprüfungen – Prüfung 10d: Elektrische Überlastung (Steckverbinder)

Standard-Nr.

JIS C 5402-10-4:2006

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS C 5402-10-4:2006

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JIS C 5402-10-4:2002

JIS C 5402-10-4:2006 Normative Verweisungen

• JIS C 5402-1-1 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1-1: Allgemeine Prüfung – Prüfung 1a: Sichtprüfung
• JIS C 5402-13-1 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 13-1: Mechanische Betriebsprüfungen – Prüfung 13a: Eingriffs- und Trennkräfte*， 2015-11-20 Aktualisieren
• JIS C 5402-2-1 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-1: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2a: Kontaktwiderstand – Millivolt-Pegelmethode

JIS C 5402-10-4:2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2006 JIS C 5402-10-4:2006 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 10-4: Schlagprüfungen (freie Bauteile), statische Belastungsprüfungen (feste Bauteile), Dauertests und Überlastprüfungen – Prüfung 10d: Elektrische Überlastung (Steckverbinder)
• 2002 JIS C 5402-10-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 10-4: Überlastprüfungen – Prüfung 10d: Elektrische Überlast