IEC PAS 62191:2000
Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten

Standard-Nr.

IEC PAS 62191:2000

Erscheinungsdatum

2000

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

zurückziehen 2002-03

Letzte Version

IEC PAS 62191:2000

ersetzt durch

IEC 60749-35:2006

IEC PAS 62191:2000 Veröffentlichungsverlauf

• 2000 IEC PAS 62191:2000 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten

IEC PAS 62191:2000 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten ha sido cambiado a IEC 60749-35:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 35: Akustische Mikroskopie für kunststoffverkapselte elektronische Komponenten.