ISO 12789:2000
Referenz-Neutronenstrahlungen – Eigenschaften und Methoden zur Erzeugung simulierter Neutronenfelder am Arbeitsplatz

Standard-Nr.
ISO 12789:2000
Erscheinungsdatum
2000
Organisation
International Organization for Standardization (ISO)
Zustand
 2008-03
Letzte Version
ISO 12789:2000

ISO 12789:2000 Normative Verweisungen

  • ISO 8529-1 Neutronen-Referenzstrahlungsfelder – Teil 1: Eigenschaften und Herstellungsverfahren*2021-11-08 Aktualisieren
  • ISO 8529-2:2000 Referenz-Neutronenstrahlungen - Teil 2: Grundlagen der Kalibrierung von Strahlenschutzgeräten in Bezug auf die das Strahlungsfeld charakterisierenden Grundgrößen
  • ISO 8529-3:1998 Referenz-Neutronenstrahlungen – Teil 3: Kalibrierung von Flächen- und Personendosimetern und Bestimmung ihrer Reaktion als Funktion der Neutronenenergie und des Einfallswinkels

ISO 12789:2000 Veröffentlichungsverlauf

  • 2000 ISO 12789:2000 Referenz-Neutronenstrahlungen – Eigenschaften und Methoden zur Erzeugung simulierter Neutronenfelder am Arbeitsplatz
Referenz-Neutronenstrahlungen – Eigenschaften und Methoden zur Erzeugung simulierter Neutronenfelder am Arbeitsplatz



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