BS IEC 61745:1998
Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern

Standard-Nr.

BS IEC 61745:1998

Erscheinungsdatum

1999

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Zustand

ersetzt werden 1999-04

ersetzt durch

BS IEC 61745:1999

Letzte Version

BS IEC 61745:1999

Ersetzen

96/209708 DC:1996

BS IEC 61745:1998 Veröffentlichungsverlauf

• 1999 BS IEC 61745:1999 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
• 1999 BS IEC 61745:1998 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern