IEC 61745:1998
Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern

Standard-Nr.

IEC 61745:1998

Erscheinungsdatum

1998

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

ersetzt werden 2017-08

ersetzt durch

IEC 61745:2017

Letzte Version

IEC 61745:2017

Ersetzen

IEC 86/125/FDIS:1998

IEC 61745:1998 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 IEC 61745:2017 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
• 1998 IEC 61745:1998 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern