DIN EN 60444-3:1997
Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk - Teil 3: Grundlegende Methode zur Messung von Zweipolparametern von Quarzkristalleinheiten bis 200 MHz durch Phasentechnik in einem Pi-Netzwerk mit Kompensation des p

Standard-Nr.
DIN EN 60444-3:1997
Erscheinungsdatum
1997
Organisation
German Institute for Standardization
Zustand
ersetzt durch
DIN EN 60444-3:1997-10
Letzte Version
DIN EN 60444-3:1997-10
Ersetzen
DIN IEC 60444-3:1993

DIN EN 60444-3:1997 Veröffentlichungsverlauf

  • 1997 DIN EN 60444-3:1997-10 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk - Teil 3: Grundlegende Methode zur Messung von Zweipolparametern von Quarzkristalleinheiten bis 200 MHz durch Phasentechnik in einem Pi-Netzwerk mit Kompensation von th. ..
  • 1997 DIN EN 60444-3:1997 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk - Teil 3: Grundlegende Methode zur Messung von Zweipolparametern von Quarzkristalleinheiten bis 200 MHz durch Phasentechnik in einem Pi-Netzwerk mit Kompensation des p
  • 0000 DIN IEC 60444-3:1993
Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk - Teil 3: Grundlegende Methode zur Messung von Zweipolparametern von Quarzkristalleinheiten bis 200 MHz durch Phasentechnik in einem Pi-Netzwerk mit Kompensation des p



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