DIN 50448:1998
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Berührungslose Bestimmung des elektrischen Widerstands von halbisolierenden Halbleiterscheiben mittels einer kapazitiven Sonde
- Standard-Nr.
- DIN 50448:1998
- Erscheinungsdatum
- 1998
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Zustand
- Letzte Version
- DIN 50448:1998
DIN 50448:1998 Veröffentlichungsverlauf
- 1998 DIN 50448:1998 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Berührungslose Bestimmung des elektrischen Widerstands von halbisolierenden Halbleiterscheiben mittels einer kapazitiven Sonde
