DIN V 32938:1998
Oberflächenprofilierung mittels lichtmikroskopischer Methoden – Konzepte und Messverfahren

Standard-Nr.

DIN V 32938:1998

Erscheinungsdatum

1998

Organisation

German Institute for Standardization

Zustand

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Letzte Version

DIN V 32938:1998

DIN V 32938:1998 Veröffentlichungsverlauf

• 1998 DIN V 32938:1998 Oberflächenprofilierung mittels lichtmikroskopischer Methoden – Konzepte und Messverfahren