JIS H 0614:1996
Visuelle Inspektion für Siliziumwafer mit spiegelnder Oberfläche

Standard-Nr.

JIS H 0614:1996

Erscheinungsdatum

1996

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS H 0614:1996

JIS H 0614:1996 Veröffentlichungsverlauf

• 1996 JIS H 0614:1996 Visuelle Inspektion für Siliziumwafer mit spiegelnder Oberfläche