DIN 50441-1:1996
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung der geometrischen Abmessungen von Halbleiterscheiben – Teil 1: Dicke und Dickenschwankung

Standard-Nr.
DIN 50441-1:1996
Erscheinungsdatum
1996
Organisation
German Institute for Standardization
Zustand
Letzte Version
DIN 50441-1:1996

DIN 50441-1:1996 Veröffentlichungsverlauf

  • 1996 DIN 50441-1:1996 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung der geometrischen Abmessungen von Halbleiterscheiben – Teil 1: Dicke und Dickenschwankung
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung der geometrischen Abmessungen von Halbleiterscheiben – Teil 1: Dicke und Dickenschwankung



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