IEC TR 60444-3:1986
Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 3: Grundlegende Methode zur Messung von Zweipolparametern von Quarzkristalleinheiten bis 200 MHz mittels Phasentechnik in einem W-Netzwerk mit Kompensation des p

Standard-Nr.

IEC TR 60444-3:1986

Erscheinungsdatum

1986

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC TR 60444-3:1986

IEC TR 60444-3:1986 Veröffentlichungsverlauf

• 1986 IEC TR 60444-3:1986 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 3: Grundlegende Methode zur Messung von Zweipolparametern von Quarzkristalleinheiten bis 200 MHz mittels Phasentechnik in einem W-Netzwerk mit Kompensation des p