JIS H 0604:1995
Messung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium-Einkristallen mittels photoleitender Zerfallsmethode

Standard-Nr.

JIS H 0604:1995

Erscheinungsdatum

1995

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS H 0604:1995

JIS H 0604:1995 Veröffentlichungsverlauf

• 1995 JIS H 0604:1995 Messung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium-Einkristallen mittels photoleitender Zerfallsmethode