DIN 50431:1988
Prüfung von Halbleitermaterialien; Messung des spezifischen Widerstands von Silizium- oder Germanium-Einkristallen mittels der Vier-Sonden-/Gleichstrommethode mit kollinearem Array
- Standard-Nr.
- DIN 50431:1988
- Erscheinungsdatum
- 1988
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Zustand
- Letzte Version
- DIN 50431:1988
DIN 50431:1988 Veröffentlichungsverlauf
- 1988 DIN 50431:1988 Prüfung von Halbleitermaterialien; Messung des spezifischen Widerstands von Silizium- oder Germanium-Einkristallen mittels der Vier-Sonden-/Gleichstrommethode mit kollinearem Array
