KS C IEC 60512-2-1-2008
Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 2-1: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Test 2a: Kontaktwiderstand – Millivolt-Level-Methode

Standard-Nr.

KS C IEC 60512-2-1-2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

KR-KS

Zustand

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ersetzt durch

KS C IEC 60512-2-1:2014

Letzte Version

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KS C IEC 60512-2-1-2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2014 KS C IEC 60512-2-1:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 2-1: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Test 2a: Kontaktwiderstand – Millivolt-Level-Methode
• 2008 KS C IEC 60512-2-1-2008 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 2-1: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Test 2a: Kontaktwiderstand – Millivolt-Level-Methode