Dieses Dokument legt die Begriffe und Definitionen, Instrumente und Ausrüstung, Probenvorbehandlung, Prüfmethoden, Berechnungsmethoden, Unsicherheitsbewertung von Messergebnissen und Prüfberichte für die Messung des Oberflächenpotenzials von Graphenmaterialien mittels Rasterkraftmikroskopie fest. Dieses Dokument gilt für die Messung des Oberflächenpotenzials von Graphenmaterialien, die mit der Methode der chemischen Gasphasenabscheidung (CVD-Methode) hergestellt wurden.
T/SPSTS 031-2023 Veröffentlichungsverlauf
2023T/SPSTS 031-2023 Messung des Oberflächenpotentials von Graphenmaterial, Rasterkraftmikroskopie