NF EN 60749-40:2012 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Falltestverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens
2012NF EN 60749-40:2012 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Falltestverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens