NF C96-013-6-19*NF EN 60191-6-19:2010
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messmethoden für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug

Standard-Nr.

NF C96-013-6-19*NF EN 60191-6-19:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

Association Francaise de Normalisation

Letzte Version

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NF C96-013-6-19*NF EN 60191-6-19:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 NF C96-013-6-19*NF EN 60191-6-19:2010 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messmethoden für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug