IEC 62880-1:2017
Halbleiterbauelemente – Stressmigrationsteststandard – Teil 1: Stressmigrationsteststandard für Kupfer
- Standard-Nr.
- IEC 62880-1:2017
- Erscheinungsdatum
- 2017
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC 62880-1:2017
IEC 62880-1:2017 Veröffentlichungsverlauf
- 2017 IEC 62880-1:2017 Halbleiterbauelemente – Stressmigrationsteststandard – Teil 1: Stressmigrationsteststandard für Kupfer
