ASTM F1392-02
- Standard-Nr.
- ASTM F1392-02
- Erscheinungsdatum
- 1970
- Organisation
- /
- Letzte Version
- ASTM F1392-02
ASTM F1392-02 Normative Verweisungen
- ASTM D4356 Standardpraxis zur Festlegung konsistenter Testmethodentoleranzen*， 1984-03-31 Aktualisieren
- ASTM D5127 Standardhandbuch für Reinstwasser zur Verwendung in der Elektronik- und Halbleiterindustrie*， 1999-03-31 Aktualisieren
- ASTM E691 Standardpraxis für die Durchführung eines Ringversuchs zur Bestimmung der Präzision einer Testmethode*， 1999-03-31 Aktualisieren
- ASTM F1153
- ASTM F1241
- ASTM F26
- ASTM F42 Standardtestmethoden für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien*， 1993-03-31 Aktualisieren
- ASTM F672 Standardtestmethode zur Messung von Widerstandsprofilen senkrecht zur Oberfläche eines Siliziumwafers unter Verwendung einer Ausbreitungswiderstandssonde*， 1988-03-31 Aktualisieren
- ASTM F723
- ASTM F81
- ASTM F84
ASTM F1392-02 Veröffentlichungsverlauf
- 1970 ASTM F1392-02
- 2000 ASTM F1392-00 Standardtestmethode zur Bestimmung von Nettoträgerdichteprofilen in Siliziumwafern durch Kapazitäts-Spannungsmessungen mit einer Quecksilbersonde
